红外显微镜

近红外一般定义为700-1600nm波长范围内的光线,由于硅传感器的上限约为1100nm,砷化铟镓(InGaAs)传感器是在近红外中使用的主要传感器,可覆盖典型的近红外频带。大量使用可见光难以或无法实施的应用可通过近红外成像完成。当使用近红外成像时,硅片等特定材料均为透明,因此红外显微检测被应用于半导体行业的各个方面,如检测硅片的裂痕崩裂等缺陷。

关闭
产品咨询
客服热线:13584876669

近红外一般定义为700-1600nm波长范围内的光线,由于硅传感器

的上限约为1100nm,砷化铟镓(InGaAs)传感器是在近红外中使

用的主要传感器,可覆盖典型的近红外频带。大量使用可见光难

以或无法实施的应用可通过近红外成像完成。当使用近红外成像

时,硅片等特定材料均为透明,因此红外显微检测被应用于半导

体行业的各个方面,如检测硅片的裂痕崩裂等缺陷。


电话咨询
产品中心
服务支持
QQ客服